百特圖像(xiang)顆(ke)(ke)粒(li)分(fen)(fen)析(xi)系(xi)統BT-1600是一(yi)種(zhong)(zhong)圖像(xiang)法(fa)(fa)粒(li)度分(fen)(fen)布(bu)(bu)測(ce)試(shi)(shi)以(yi)(yi)及(ji)顆(ke)(ke)粒(li)形(xing)態分(fen)(fen)析(xi)等多功能(neng)顆(ke)(ke)粒(li)分(fen)(fen)析(xi)系(xi)統，該(gai)系(xi)統包括(kuo)光學顯微(wei)鏡、數字CCD攝(she)像(xiang)頭、電腦、打(da)印(yin)機(ji)等部分(fen)(fen)組成(cheng)。它(ta)是將(jiang)傳(chuan)統的(de)(de)顯微(wei)測(ce)量(liang)方法(fa)(fa)與現代(dai)的(de)(de)圖像(xiang)處理(li)技術結(jie)合的(de)(de)產物(wu)。它(ta)的(de)(de)基本工作流程是通(tong)過(guo)專(zhuan)用(yong)攝(she)像(xiang)頭將(jiang)顯微(wei)鏡的(de)(de)圖像(xiang)拍攝(she)下(xia)來;通(tong)過(guo)圖像(xiang)采集卡將(jiang)圖像(xiang)傳(chuan)輸(shu)到(dao)(dao)電腦中;通(tong)過(guo)專(zhuan)門設計的(de)(de)顆(ke)(ke)粒(li)分(fen)(fen)析(xi)軟件對圖像(xiang)進(jin)行處理(li)與分(fen)(fen)析(xi);通(tong)過(guo)顯示器和打(da)印(yin)機(ji)輸(shu)出分(fen)(fen)析(xi)結(jie)果。本系(xi)統具有直觀、形(xing)象、準(zhun)確(que)、測(ce)試(shi)(shi)范圍寬及(ji)自動(dong)識別(bie)、統計、量(liang)化(hua)等特點，不僅可以(yi)(yi)用(yong)來觀察顆(ke)(ke)粒(li)形(xing)貌，還(huan)可以(yi)(yi)得到(dao)(dao)粒(li)度分(fen)(fen)布(bu)(bu)、長徑比以(yi)(yi)及(ji)長徑比分(fen)(fen)布(bu)(bu)、圓形(xing)度以(yi)(yi)及(ji)圓形(xing)度分(fen)(fen)布(bu)(bu)等，為科研、生產領域增添(tian)了一(yi)種(zhong)(zhong)新的(de)(de)粒(li)度測(ce)試(shi)(shi)手(shou)段(duan)。

　　1、 基本指標與性能

　　(1) 測(ce)試(shi)范圍： 1-3000微米(mi)。

　　(2) 系統(tong)最(zui)大放(fang)大倍數：4000倍。

　　(3) 分(fen)辨(bian)率：0.1微米。

　　(4) 重復性(xing)誤差(cha)：<3%(不包含樣品(pin)制備因素造成的(de)誤差(cha))。

　　(5) 粒度分(fen)(fen)布類型(xing)：體積(ji)分(fen)(fen)布、面積(ji)分(fen)(fen)布、數量分(fen)(fen)布、長徑比分(fen)(fen)布。

　　(6) 輸出項(xiang)目：包括(kuo)原始參數(包括(kuo)樣品(pin)信息、測試信息等)，分析數據(ju)(包括(kuo)區間分布、累計分布、平均徑、長(chang)徑比以(yi)及(ji)長(chang)徑比分布等)，圖(tu)形(區間分布直方圖(tu)和累計分布曲(qu)線等)。

　　2、 測試原理

　　(1) 標定方法

　　用(yong)顯微(wei)鏡專用(yong)標準刻度尺直接標定(ding)每個(ge)像素的尺寸(cun)，再(zai)根據每個(ge)顆粒(li)圖像面積所(suo)占的像素多少來(lai)度量顆粒(li)的大(da)小。以微(wei)米為單位。

　　(2) 圖像顆粒分析系統的原(yuan)理

　　通過對顆(ke)(ke)粒(li)數(shu)量和(he)每(mei)(mei)個顆(ke)(ke)粒(li)所(suo)包含的像素數(shu)量的統(tong)(tong)計，計算出每(mei)(mei)個顆(ke)(ke)粒(li)的等(deng)圓面積和(he)等(deng)球(qiu)體(ti)積，從而得到(dao)顆(ke)(ke)粒(li)的等(deng)圓面積直徑(jing)、等(deng)球(qiu)體(ti)積直徑(jing)以(yi)及長徑(jing)比等(deng)，再對所(suo)有的顆(ke)(ke)粒(li)進(jin)行統(tong)(tong)計，從而得到(dao)粒(li)度分布等(deng)信息。